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                NI PXI矢量深圳網絡分析儀,助力半導體和移動測試

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                NI PXI矢量深圳網絡分析儀,助力半導體和移動測試

                發布日期:2016-11-03 作者:萬喆 點擊:

                NI矢量深圳網絡分析儀(VNA)憑借其快速自動化測量、功能強大的儀器結構和經簡化的測試系統開發過程,可降低測試成本。

                深圳網絡測試儀

                  · 新的NI PXI Express模塊??集成了高級矢量深圳網絡分析儀的測量功能,形成基于PXI的測試系統,其中包括了高精度直流、高速模擬和數字測量等應用。


                  新聞發布 - 2012年12月  美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發布了NI NI PXIe-5632 VNA,它經進一步優化,可幫助工程師滿足日益復雜的射頻測試要求,而其成本、尺寸和使用所需時間僅是傳統堆疊式解決方案的極小一部分。 新的PXIe VNA基于創新型的雙源架構,頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz,擁有獨立調整的源代碼和源接入循環,可適用于眾多不同的測量應用。




                  “NI在射頻和微波儀器上持續大力投入,將PXI的應用領域擴大至高端應用?!盢I射頻研究和開發副總裁Jin Bains表示, “NI PXIe-5632矢量深圳網絡分析儀功能豐富,可顯著降低網絡測量成本,尤其是針對那些需要高度精確、快速和小封裝測量的大批量自動化測試的應用?!?/p>


                  產品特征


                  · 雙端口,3槽PXI Express矢量網絡分析儀,頻率范圍為300 kHz至8.5 GHz 。


                  · 功率范圍較寬,為-30dBm到+15 dBm,調節步長為0.01dB,用于測量有源設備的壓縮和S-參數。


                  · 帶有源接入循環的雙源架構,可實現脈沖S參數測量和擴展源功率范圍。


                  · 頻偏功能使用獨立調整的源代碼,實現對頻率轉換器件和熱S-參數的測量。


                  · 通過NI LabVIEW、ANSI C和.NET等行業領先的編程接口,可簡化編程并加快測試開發速度,同時保證射頻測量質量。


                  欲知更多,請訪問http://www.ni.com/vna/zhs/。


                  關于NI


                  自1976年以來,美國國家儀器,簡稱NI(www.ni.com)一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統的開發。長期以來,NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發展,確??蛻?、員工、供應商及股東獲得成功。


                相關標簽:深圳網絡分析儀

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